薄膜電阻厚膜電阻和金屬膜電阻如何取舍

電阻有三種基本類型：金屬膜電阻、薄膜貼片電阻及厚膜貼片電阻，這三種電阻表面上看起來很相似，并且可能具有類似的采購規(guī)格。但實際上，這三種電阻的制造方式均不同。本身固有的設計與處理將極大影響電氣性能，因此在安裝后，這三種電阻的行為均不相同。當外部及內(nèi)部溫度改變時，這些差異會變得非常明顯且至關重要。此外，長期穩(wěn)定性、濕度及其它環(huán)境條件的影響會隨時間推移而產(chǎn)生額外影響。這一點應加以考慮，當電路要求對信噪比 (SNR) 及脈沖響應來說更加苛刻時更應如此。因此，一些所謂的高精度電阻在用于電路后結果卻達不到人們可能期望的精度。要生產(chǎn)具有高精度及高穩(wěn)定性的電阻，重要的是能夠控制溫度及環(huán)境條件對電阻器件的影響。

在具有低 TCR 值的高精度電阻中，自加熱（焦耳效應）會使電阻無法嚴格符合它們的 TCR 規(guī)范。這種不準確性會使電阻值在施加的功率下產(chǎn)生錯誤。選擇相應的高精度電阻前，應仔細了解這三種不同的高精度電阻是如何制造的，并對它們進行測試，以了解它們在使用中的運行方式。

電阻功率系數(shù) 測試示例：

在該測試中，我們使用了大小相同 (1206)

且電阻值相同 (1 K) 的三種表面貼裝片式電阻。我們對下列每個電阻的 TCR 值進行了測試（MIL 范圍：-55℃ ~ +125℃，+25℃參考）：箔片式電阻、薄膜片式電阻及厚膜片式電阻。我們有意選擇薄膜及厚膜電阻來獲得超低 TCR 值。

在 PCR 測試過程中，我們對這些電阻施加了 100 mW～500 mW 的功率，并測試了電阻值在整個測試過程中的變化。

我們使用了基本的惠斯登電橋電路。選擇該電橋臂的電阻值對測試電阻 (Rx) 施加高功率，同時確保其余三個支腳保持超低功率。當功率增加時，Rx 中的任何變化均是由 Rx 的自加熱導致的。

公式：
Rb×Rx = Rstd×Ra? ( 1 K×1 K = 10Ω×100 K )

Ra：100 K，額定功率：+125℃時為 0.3W，Rb = 1K，額定功率：+125℃時為 0.3W，Rstd：10Ω，額定功率：+125℃時為 0.3W? Rx = 1 K，額定功率：+70℃時為 0.3W

結論:

在因以下兩種因素（環(huán)境溫度變化－TCR和負載變化焦耳效應引起的內(nèi)部升溫 PCR）導致的電阻溫度變化過程中，高精度金屬膜電阻實現(xiàn)了最可用的穩(wěn)定性。

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